1. Микроскоп сканирующий зондовый НаноСкан – 3Di

   Микроскоп сканирующий зондовый НаноСкан-3Di предназначен для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением. Результаты измерений могут быть использованы для определения геометрических параметров в нанометровом диапазоне.

2. Интерферометр фотоэлектрический "Физо"

   Интерферометр фотоэлектрический "Физо" предназначен для измерений отклонений от плоскостности оптических поверхностей в научно-исследовательских институтах, оптическом приборостроении.

3. Микроскоп ближнепольный WITec alpha 300

   Микроскоп ближнепольный WITec alpha 300 предназначен для измерений геометрических параметров рельефа поверхности в лабораториях научно-исследовательских институтов, оптическом приборостроении.

4. Микроскоп конфокальный сканирующий VCM-200А

   Микроскоп конфокальный сканирующий VCM-200А предназначен для измерения профиля поверхности различных отражающих поверхностей в лабораториях научно-исследовательских институтов, оптическом приборостроении и производстве.

5. Анализатор размера частиц АРН-2

   Анализатор размера частиц АРН-2 предназначен для измерения размеров дисперсных частиц нанометрового и субмикронного размера в жидких средах.

6. Приборы для послеубойной классификации свиных туш IM-03

   Приборы для послеубойной классификации свиных туш IM-03 предназначены для измерения линейных размеров (толщины) жира и линейных размеров мышечной ткани в диапазоне от 0 до 100 мм при проведении послеубойной классификации свиных туш в соответствии с ГОСТ Р 53221-2008 "Свиньи для убоя. Свинина в тушах и полуту-шах. Технические условия".

7. Измерители ширины оптические MSO

   Измерители ширины оптические MSO предназначены для бесконтактного измерения ширины листового и ленточного проката.

8. Меры моделей дефектов ОСО-Г

   Меры моделей дефектов ОСО-Г предназначены для воспроизведения и (или) хранения физической величины заданных геометрических размеров искусственных дефектов на поверхности для проведения, поверки, калибровки и настройки вихретоковых и феррозондовых дефектоскопов.

9. Комплексы программно-аппаратные анализа микроструктуры поверхности твердых тел Thixomet

   Комплексы программно-аппаратные анализа микроструктуры поверхности твердых тел Thixomet предназначены для измерения геометрических размеров объектов, оценки качества структуры материалов, сохранения изображений наблюдаемой структуры в электронном и печатном виде (с помощью программного обеспечения). Комплексы могут использоваться в области металлографии, материаловедения, гранулометрии и в других...

10. Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650

    Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650 предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком.