Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650
Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650 предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком.
Доступ ограничен
Приглашаем Вас стать пользователем Системы (ЭТБ) "ГИС-Профи" для специалистов и руководителей предприятий топливно-энергетического комплекса.
Пройдите регистрацию