Микроскоп электронный просвечивающий с аналитическими модулями JEM-2100

Микроскоп электронный просвечивающий с аналитическими модулями JEM-2100 предназначен для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры, а также для анализа локального элементного состава и кристаллической структуры тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и суспензий микрочастиц (вплоть до наноразмерных), нанесенных на полимерную пленку-подложку).