Авторы: ОАО "Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума"; ФГУ "Российский научный центр "Курчатовский институт", Государственное учреждение Российской академии наук "Институт кристаллографии имени А.В.Шубникова"
ГОСТ Р 8.700-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа
ДЕЙСТВУЕТ.
Дата введения: 01.11.2010.
Авторы: Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума"; Федеральное государственное учреждение "Российский научный центр "Курчатовский институт"; Государственное учреждение Российской академии наук "Институт кристаллографии имени А.В.Шубникова"; Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский физико-технический институт (государственный университет)".
Утвержден и введен в действие Приказом Ростехрегулирования от 05.04.2010 № 54-ст.