ГОСТ Р 57394-2017 Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность

ДЕЙСТВУЕТ.

Дата введения: 01.01.2018.

Авторы: Акционерное общество "Российский научно-исследовательский институт "Электронстандарт" (АО "РНИИ "Электронстандарт") при участии Федерального государственного унитарного предприятия "Мытищинский научно-исследовательский институт радиоизмерительных приборов" (ФГУП "МНИИРИП"), Акционерного общества "Центральное конструкторское бюро "ЦКБ "Дейтон" (АО "ЦКБ "Дейтон"), Акционерного общества "Росэлектроника" (АО "Росэлектроника").

Утвержден и введен в действие Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 27.02.2017 № 74-ст.