ГОСТ 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки

ДЕЙСТВУЕТ.

Дата введения: 01.11.2010.

Авторы: Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума" (Россия), Федеральное государственное учреждение "Российский научный центр "Курчатовский институт" (Россия) и Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский физико-технический институт (государственный университет)" (Россия).

Утвержден и введен в действие Приказом Ростехрегулирования от 05.04.2010 № 57-ст.