BS ISO 24173:2009. Microbeam analysis - Guidelines for orientation measurements using electron backscatter diffraction

BS ISO 24173:2009. Microbeam analysis - Guidelines for orientation measurements using electron backscatter diffraction

Доступ ограничен

Приглашаем Вас стать пользователем Системы (ЭТБ) "ГИС-Профи" для специалистов и руководителей предприятий топливно-энергетического комплекса.

Пройдите регистрацию