BS ISO 23830:2008. Surface chemical analysis - Secondary- ion mass spectrometry - Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry

Доступ ограничен

Приглашаем Вас стать пользователем Системы (ЭТБ) "ГИС-Профи" для специалистов и руководителей предприятий топливно-энергетического комплекса.