BS IEC 63003:2015. Standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505

BS IEC 63003:2015. Standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505

Доступ ограничен

Приглашаем Вас стать пользователем Системы (ЭТБ) "ГИС-Профи" для специалистов и руководителей предприятий топливно-энергетического комплекса.

Пройдите регистрацию