BS EN 62047-21:2014. Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21: Test method for Poisson’s ratio of thin film MEMS materials
Доступ ограничен
Приглашаем Вас стать пользователем Системы (ЭТБ) "ГИС-Профи" для специалистов и руководителей предприятий топливно-энергетического комплекса.
Пройдите регистрацию