BS EN 62047-18:2013. Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18: Bend testing methods of thin film materials

Доступ ограничен

Приглашаем Вас стать пользователем Системы (ЭТБ) "ГИС-Профи" для специалистов и руководителей предприятий топливно-энергетического комплекса.